CST-50冲击式样缺口投影仪
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CST-50冲击式样缺口投影仪

CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司专利产品,对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型缺口精度的设备。

用途与特点:
   CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司专利产品,根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T 229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型缺口精度的设备。冲击试样缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样V型和U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,也可满足美标、欧标ASTM E23-02a、EN10045、ISO148、ISO83等国际相关标准。
主要技术参数:
■    投影屏直径:¢200mm
■    工作台尺寸:
方工作台尺寸:(110×125)mm
圆工作台直径:¢90mm                                                               
工作台玻璃直径:¢70mm
■    工作台行程:纵向:±10mm,横向:±10mm,升降:±12mm
■    工作台转动范围: 0°~ 360°
■    仪器放大倍率:50×
物镜放大倍率:2.5×
投影物镜放大倍率:20×
■    光源:(卤钨灯)DC12V 100W
■    外形尺寸:(510×220×600)mm
■    重量:18kg
■    电源:~220V 50Hz 

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